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QNIX4200/4500测厚仪膜厚仪

QNIX4200/4500测厚仪膜厚仪

简要描述:QNIX4200/4500测厚仪膜厚仪测量铁基及非铁基材质膜厚
QNix4500为磁性和涡流两用测厚仪,不仅可以用来测量钢铁等磁性基体,还可以用来测量铝、铜、不锈钢等非磁性金属表面的涂层、氧化膜、磷化膜等覆层。

产品型号: QNIX4200/4500

所属分类:安规计量仪器

更新时间:2024-05-22

厂商性质:生产厂家

详情介绍
    QNIX4200/4500测厚仪膜厚仪

    QNix4200和QNix4500这两种型号一体化/分体化设计,只需调零,无需校准,使用极其简单。其中QNix4200为磁性测厚仪,可以用来测量钢、铁等磁性基体上的涂层、镀层;这两个型号操作简单,携带方便,精度高,为广大用户所喜爱。

    QNIX4200/4500测厚仪膜厚仪

    在传统QNix®4500基础上,为了满足客户不同的需要,特推出QNix®4500(分体式)机,探头和主机之间通过一根探头线连接起来,可以满足特定测量环境(比如狭小空间)的需要,测量更方便,使用更人性化,性价比更高

    为了迎合用户需要,还推出QNix®4500(大量程)机,使在铁基测量模式下量程可扩大到5mm。

    产品优点:

    • 只需调零,无需校准

    • 体积小巧,操作方便

    • 一机双用,自动识别基体

    • 精度高

    • 价格便宜

    QNix®4500(分体式)介绍

    1简单快速测量

    2不需要校准

    3自动开关机

    4大量程FE:0-5000umNFE:0-3000um

    5双用探头,性价比高

    6霍尔传感器让测量更稳定

    7测量时声音同步

    8红宝石耐磨头,寿命长

    9背光LED显示,读数更加清晰

    10自动识别测量基体

    11分体式探头,满足不同的测量环境

技术参数
磁性基体(Fe模式) QNix4200/4500均有此功能
非磁性基体(NFe模式) QNix4500有此功能
测量范围 QN4200:Fe:0-3000um
QNIX4500:Fe:0-3000um;NFe:0-3000um
QNIX4500(5mm型):Fe:0-5000um;NFe:0-3000um
QNIX4500(分体型):Fe:0-3000um;NFe:0-3000um
显示精度 0.1um
精度 0-50um:≤±1um
50-1000um:≤±1.5%读数
1000-3000um≤±3%读数
zui小接触面 10×10mm/QNix4500
zui小曲率半径 凸面:3mm;凹面:25mm
zui小基体厚度 Fe:0.2mm/NFe:0.05mm
温度补偿范围 0-60℃
显示 LCD液晶(带背光)
探头 红宝石固定式
电源 2×1.5V干电池
尺寸 100×60×27mm
重量 110g



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